Scanning transmission electron microscope (STEM)はマイクロメートルからサブオングストロームまでの広いスケールの解析が可能であり、広く用いられている解析手法の一つである。今回は、原子分解能の解析手法の概要と、誘電体解析の一例を紹介する。

　光散乱分光は非接触かつ非侵襲的に物質の対称性やダイナミクスを調べることができる手法であり、温度や電場、圧力といった外場の印加に柔軟に対応することができる。したがって、相転移に伴う静的および動的な異常の検出に非常に適しており、さまざまな材料の開発や評価において重要な役割を果たしてきた。
　なかでも、近年機能性薄膜開発・研究の場にも適用されはじめている偏光角度分解ラマン測定は、試料の異方性や配向に敏感であるため、微小領域の対称性を評価することに有利な測定手法として注目を集めている。本講演では、はじめに光散乱分光法の概要を説明し、強誘電体関連物質を中心とした最近の研究トピックスを紹介したい。